© Fraunhofer IPM
Struktur einer elektrochemisch abgeschiedenen BiTe-Schicht.

Oberflächenstrukturen analysieren

Wir analysieren Oberflächen mit hochauflösenden mikroskopischen Verfahren.

Strukturanalyse

Ausstattung für die Strukturanalyse

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Struktur einer elektrochemisch abgeschiedenen BiTe-Schicht.
  • Ellipsometer
  • Profilometer
  • Raster-Elektronen-Mikroskop / REM inkl. Energiedispersivem Röntgenspektroskop / EDX und Electron Backscatter Diffraction / EBSD
  • Raster-Kraft-Mikroskop / AFM
  • Laser-Scanning-Mikroskop
  • Fluoreszenz-Messsystem
  • Mehrwellenlängen-Holographie-Messsystem

ServiceLab Materialien