Infomaterial »Produktionskontrolle«

 

Track & Trace markierungsfrei

Ein neuartiges Verfahren zur Rückverfolgung nutzt die individuelle Oberflächen-Mikrostruktur von Bauteilen als Marker.

 

Materialanalyse von Oberflächen und Beschichtungen

Laserinduzierte Plasmaspektroskopie (LIPS) zur schnellen Bestimmung der chemischen Zusammensetzung von Oberflächen.

 

Bildgebende Messung von Mikrodeformationen

Elektronische Speckle-Interferometrie für nanometergenaue Messung

 

HoloTop

Holographische 3D Inline Messtechnik

 

3-D-Inline-Inspektion von Druckgussteilen

Entgratungs- und Verrundungsfehler direkt in der Fertigung erkennen.

 

Bauteil-Klassifikation

Echtzeiterfassung wichtiger Formparameter direkt in der Fertigung.

 

F-Scanner: Oberflächeninspektion

Großflächige Inline-Prüfung von Oberflächenreinheit und Beschichtungen.

 

F-Camera

Oberflächenreinheit und -defekte hochauflösend messen

 

Wire-HR

Automatische Optische Inspektion der Drahtproduktion
 

SWIR-Inspektion

Bildgebende Inline-Analytik jenseits des sichtbaren Spektralbereichs

 

Systementwicklungen für die Endoskopie

Maßgeschneiderte optische Systeme erhöhen die Sicherheit bei minimalinvasien Operationen.

 

Fälschungssichere Tickets durch Marker-Pigmente

Optisches Sicherheitsmerkmal digital verschlüsselt: Secure Stamp

 

Produktschutz

Oberflächenstrukturen entlarven Fälschungen

 

CellMonitor

Automatisiertes Mikroskop für kontinuierliches Zell-Monitoring

 

CellCultivator: Die Zellfabrik

Zellen vollautomatisch kultivieren, analysieren und selektieren
 

Diagnose per Schnelltest

Neue Biochip-Systeme analysieren Blut vollautomatisch vor Ort
 

DNA Analysis System

Compact Analyzer for PCR and Hybridization With Real-time Detection