Im Sekundentakt: automatisierte Mikroskopie-Systeme für anspruchsvolle Messaufgaben

Inline-Mikroskopie

Für spezielle Messaufgaben entwickelte Mikroskopie-Systeme von Fraunhofer IPM funktionieren auch unter sehr rauen, anspruchsvollen Umgebungsbedingungen. Die vollautomatischen Systeme messen schnell und präzise und werden zur Inline-Kontrolle in Produktionsprozessen genutzt. Unsere Systeme sind immer dort gefragt, wo messtechnische Standardlösungen nicht ausreichen: Beispielsweise für die schnelle Inspektion großer planer Flächen auf mikrometergroße Defekte oder von Bauteilen mit speziellen Geometrien, bei denen mikrometergenaue Passung im Sekundentakt geprüft werden muss.

Unsere Wissenschaftler verfügen über Know-how in allen gängigen Mikroskopie-Verfahren. Wo immer möglich, greifen wir auf kommerziell erhältliche Mikroskope zurück, die wir zu Spezialsystemen erweitern. Dabei werden Beleuchtung, mechanische und elektrische Schnittstellen und nicht zuletzt die Software zur Dateninterpretation auf die besonderen Anforderungen hin optimiert. So entstehen inline-fähige Systeme, die den besonderen Umgebungsbedingungen gerecht werden.