Sie finden uns vom 26. bis 28. September auf dem Stand des Fraunhofer-Geschäftsbereich Reinigung Halle 10/D28. Wir freuen uns auf Ihren Besuch!
Internationale Leitmesse für industrielle Teile- und Oberflächenreinigung
Halle 10/D28
Stand Fraunhofer-Geschäftsbereich Reinigung
Fraunhofer IPM zeigt Messsysteme zur automatisierten 100-Prozent-Kontrolle von Oberflächen. Die Systeme basieren hauptsächlich auf dem Verfahren der bildgebenden Fluoreszenzanalyse. Mithilfe dieses Verfahrens lassen sich sowohl partikuläre als auch filmische Verunreinigungen direkt auf der Bauteiloberfläche erkennen und quantifizieren.
Eine fertigungsintegrierte Prüfung von Bauteilen auf filmische Verunreinigung muss schnell, berührungslos, empfindlich und flächendeckend sein. Die flächige Prüfung wird nötig, weil Funktionsflächen mit höheren Reinheitsanforderungen wie Klebenuten, zu fügende oder zu lackierende Flächen oft ausgedehnt sind und die Verteilung der Verunreinigung selten homogen ist.
Unsere Verfahren zur Inline-Prüfung von Bauteilen beruhen darauf, dass filmische Verunreinigungen in aller Regel fluoreszieren und mithilfe der Fluoreszenz eine quantitative Erfassung möglich ist:
Der F-Scanner 1Dmini prüft umgeformte Bauteile auf Verunreinigungen. Das System detektiert Verunreinigungen auf den relevanten Bereichen großer Bauteile quantitativ und mit hoher Ortsauflösung im Produktionstakt. Das robotergeführte, bildgebende Inspektionssystem untersucht solche Bauteilstellen, für die z. B. wegen nachfolgender Schweißung oder Klebung besondere Reinheitsforderungen gelten. Aufgrund der hohen Tiefenschärfe können beliebige Freiformteile schnell untersucht werden.
Die F-Camera mini ermöglicht die sehr empfindliche bildgebende Inline-Prüfung von Bauteiloberflächen. Verunreinigungen oder die Qualität von Beschichtungen detektiert das Prüfsystem quantitativ im Sekundentakt mit einer Auflösung bis in den Mikrometerbereich. Die F-Camera mini eignet sich zur Inspektion von spiegelnden oder auch rauen Oberflächen. Dank Fluoreszenz-Messtechnik erkennt das System organische Substanzen auf metallischen Oberflächen besonders sensitiv: Filmische Restverunreinigungen bis hinunter zu wenigen 10 nm Dicke werden zuverlässig detektiert.
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM