Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPMDas Portfolio des Geschäftsfelds Produktionskontrolle umfasst eine große Zahl an optischen Verfahren und Systemen zur Messung und Analyse von Oberflächen, Beschichtungen und 3D-Strukturen. Die Systeme messen schnell und sehr genau – auch unter den herausfordernden Umgebungsbedingungen industrieller Produktion und im Hinblick auf den Anspruch einer 100-Prozent-Qualitätskontrolle. Für den Einsatz beim Kunden passen wir unsere Systeme individuell an die jeweilige Messaufgabe an und entwickeln so die eingesetzten Technologien stetig fort.
Systeme »Produktionskontrolle«
ANALIZEmulti
Laserbasiertes Verfahren zur Dickenmessung und Elementanalyse von (Multi-) Beschichtungen und Schichtänderungen
Das vollautomatische Laborsystem ANALIZEmulti misst stichprobenartig Dicke und Elementzusammensetzung von Schichtfolgen und Werkstückmaterial in Mehrschichtsystemen.
ANALIZEsingle
Laserbasiertes Verfahren zur Dickenmessung und Elementanalyse von Bauteil-Beschichtungen bis unter 1 nm Schichtdicke
AnalizeSingle erfasst Dicke und Elementzusammensetzung von Oberflächenbeschichtungen – als Inline- oder als Labor-System.
F-360°
Freifall-Inspektionssystem F-360° zur 100-Prozent-Qualitätsprüfung von Bauteilen (Beschichtungen und Verunreinigungen)
Das bildgebende AOI-System prüft Dicke bzw. Massenbelegung von Bauteilbeschichtungen und detektiert unerwünschte Verunreinigungen auf Bauteiloberflächen mithilfe von Fluoreszenzmesstechnik.
F-Camera mini
Inline-System zur Prüfung von Oberflächenreinheit und Beschichtungen
Das bildgebende Inspektionssystem F-Camera mini prüft die Oberflächenreinheit und die Qualität von Beschichtungen mit einer Auflösung im Mikrometerbereich während der Produktion.
F-Camera
Inline-Prüfsystem zur hochauflösenden Detektion von filmischen und partikulären Verunreinigungen
Das bildgebende Fluoreszenz-Messsystem detektiert Verunreinigungen und Formdefekte an Bauteilen während der Produktion.
F-Scanner
Inline-Prüfsystem zur Kontrolle von Oberflächenreinheit und organischen Beschichtungen auf großen (3D-) Flächen
Das bildgebende Fluoreszenz-Messsystem detektiert Verunreinigungen auf beliebig geformten Bauteilen während der Produktion. Die Technologie des F-Scanners wird darüber hinaus zur Beschichtungskontrolle und Ölfilm-Messung eingesetzt.
mehr zu Beschichtungskontrolle und Ölfilmmessung mit dem F-Scanner
HoloTop NX
3D-Sensor zur Integration in Mehrachssysteme
Das digital-holographische Messsystem HoloTop NX ermöglicht eine mikrometergenaue Qualitätskontrolle von Präzisionsbauteilen direkt an Mehrachssystemen.
HoloGear
Digital-holographisches System zur optischen Verzahnungsmessung
HoloGear erfasst die Oberfläche von Verzahnungsgeometrien vollständig und hochpräzise und ermöglicht so eine 100-Prozent-Kontrolle der Verzahnung.
HoloTop
3D-Inline-Messsystem zur mikrometergenauen Vermessung von Bauteil-Oberflächenstrukturen im industriellen Herstellungsprozess
Das digital-holographische Messsystem HoloTop erfasst die Oberfläche von Bauteilen mikrometergenau in von 60 ms und ermöglicht somit eine 100-Prozent Qualitätskontrolle während der Produktion.
Inspect-360° HR
Optisches Freifall-Inspektionssystem zur hochauflösenden 100-Prozent-Prüfung von Maßhaltigkeit und Oberflächentextur von Bauteilen
Das bildgebende AOI-System prüft Bauteile auf Oberflächendefekte und Geometriefehler mit Genauigkeiten im Bereich von wenigen Hundertstel Millimeter. Dank des Freifall-Konzepts arbeitet das System ohne Bauteilhandling und inspiziert unterschiedliche Bauteile ohne Anpassung der Hardware.
Inspect-360° MP
Optisches Freifall-Inspektionssystem zur multiperspektivischen 100-Prozent-Prüfung von Maßhaltigkeit und Oberflächentextur von Bauteilen, insbesonderen von Bauteilen mit komplexer Geometrie
Das bildgebende AOI-System prüft Bauteile auf Oberflächendefekte und Geometriefehler mit Genauigkeiten im Bereich von wenigen Hundertstel Millimeter und erfasst dabei auch schwer zugängliche Stellen komplex geformter Bauteile. Dank des Freifall-Konzepts arbeitet das System ohne Bauteilhandling und inspiziert unterschiedliche Bauteile ohne Anpassung der Hardware.
TexCam
Automatisierte Texturanalyse
TexCam erfasst die Mikrostruktur von Oberflächen mit extrem hoher Auflösung bei vergleichsweise großem Messfeld. Dazu nutzt das System eine hochauflösende Kamera und moderne Pixel-Shifting-Verfahren.
Track & Trace per Fingerabdruck
Optisches Verfahren zur markierungsfreien Rückverfolgung von Bauteilen
Track & Trace nutzt die individuelle Oberflächen-Mikrostruktur (Fingerabdruck) eines Bauteils als Markierung und ermöglicht so »Traceability« von Massenbauteilen zu vertretbaren Kosten.
Wire-HR
Optisches Inline-System zur 100-Prozent-Defekterkennung in der Produktion von Draht und Metallbändern
Das kamerabasierte System erkennt kleinste Defekte auf der gesamten Drahtoberfläche bei Draht-Vorschubgeschwindigkeiten von bis zu 30 Metern pro Sekunde.