Im Sekundentakt: automatisierte Mikroskopie-Systeme für anspruchsvolle Messaufgaben

Inline-Mikroskopie

Von Fraunhofer IPM für spezielle Messaufgaben entwickelte Mikroskopie-Systeme werden kundenspezifisch ausgelegt und erfüllen höchste Anforderungen. Die vollautomatischen Systeme messen schnell und präzise und werden zur Inline-Kontrolle in Produktionsprozessen genutzt. Unsere Systeme sind immer dort gefragt, wo messtechnische Standardlösungen nicht ausreichen, beispielsweise für die schnelle Inspektion großer planer Flächen auf mikrometergroße Defekte oder von Bauteilen mit spezieller Geometrie, bei denen mikrometergenaue Passung im Sekundentakt geprüft werden muss. Auch für Anwendungen in der Biotechnologie wurden Spezialmikroskope entwickelt, die vollautomatisch und schnell Zellkulturen analysieren.

Fraunhofer IPM verfügt über Know-how in allen gängigen Mikroskopie-Verfahren. Wo immer möglich, wird auf kommerziell erhältliche Mikroskope zurückgegriffen, die in Spezialsysteme integriert werden. Dabei werden Beleuchtung, mechanische und elektrische Schnittstellen und die Software zur Dateninterpretation auf die besonderen Anforderungen des Kunden hin optimiert. So entstehen inline-fähige Systeme, die den besonderen Umgebungsbedingungen gerecht werden.

Aktuelle Arbeiten zielen auf die Integration komplexer Mikroskopie-Systeme in die Fertigung. Dazu hat Fraunhofer IPM seine Kompetenzen in den letzten Jahren um die Nutzung von Laser-Scanning-Mikroskopen für die schnelle Inline-Prüfung komplexer mikroskopischer Bauteile erweitert. In diesem Zusammenhang haben wir sehr anspruchsvolle Bildauswertungsalgorithmen entwickelt, mit denen mikroskopische Strukturen in Echtzeit analysiert werden.