Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM
»Ray Tracing« und »Wave Optic« als Analysetools zur Simulation optischer Eigenschaften
Bei nahezu jeder Entwicklung eines optischen Systems erfolgt heutzutage eine optische Simulation bevor es in einem Laboraufbau oder gar in der Fertigung realisiert wird. Um zu erkennen, ob ein optisches System die Spezifikationen erfüllt, ist es erforderlich, eine Simulation unter Berücksichtigung aller relevanten optischen Effekte und Einflüsse durchzuführen.
Fraunhofer IPM verfügt über langjährige Erfahrungen in der Anwendung von »Ray Tracing«- und »Wave Optic«-Analysetechniken. Hierdurch sind wir in der Lage optische Systeme im Hinblick auf die geforderten Spezifikationen zu optimieren und den Einfluss von Störgrößen, wie z. B. Temperatur, auf die optische Performance zu untersuchen und abzuschätzen. Darüber hinaus ist es möglich, den Einfluss von Fertigungs- und Montagetoleranzen auf die Qualität des optischen Systems zu beurteilen und die kritischen Komponenten des Systems zu identifizieren. Durch geeignete Schnittstellen zwischen optischem Simulationsprogramm und CAD-System können direkt und zeitnah die Auswirkungen mechanischer Anpassungen im CAD-Modell auf die optischen Eigenschaften beurteilt werden und die Modelle vor der Fertigung überprüft werden.