Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM
Fraunhofer IPM verfügt über eine umfangreiche Ausstattung und zahlreiche Methoden zur Analyse entwickelter, funktionaler Materialien und Oberflächen.
- 3D-Computertomographie (CT)
- Ellipsometer
- Profilometer
- Raster-Elektronen-Mikroskop (REM) inkl. Energiedispersivem Röntgenspektroskop (EDX) und Electron Backscatter Diffraction (EBSD)
- Laser-Scanning-Mikroskop
- Fluoreszenz-Messsystem
- Mehrwellenlängen-Holographie-Messsystem